粗糙度輪廓儀的發(fā)展方向，請(qǐng)看這里分析

　　

       隨著機(jī)械、電子以及光學(xué)工業(yè)的飛速發(fā)展,對(duì)精密機(jī)械加工表面的質(zhì)量要求日益提高,使得表面粗糙度的測(cè)量具有越來(lái)越重要的地位。對(duì)激光核聚變驅(qū)動(dòng)器、磁盤、 光盤、X射線光學(xué)儀器元件、大功率激光窗口以及同步輻射器元件的表面粗糙度要求，均已達(dá)到了納米級(jí)要求。這些需求也極大的促進(jìn)了表面粗糙度測(cè)量技術(shù)的發(fā)展。粗糙度輪廓儀表面粗糙測(cè)量技術(shù)的未來(lái)發(fā)展方向如何呢？

　　現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的許多領(lǐng)域?qū)Ρ砻娴馁|(zhì)量提出了更高的要求，一方面現(xiàn)有的常規(guī)檢測(cè)方法不能滿足測(cè)量精度的要求，特別是近幾年以來(lái)納米技術(shù)的出現(xiàn)和逐步的推廣應(yīng)用， 相應(yīng)的提高了對(duì)表面粗糙度測(cè)量精度的要求，使表面粗糙度測(cè)量技術(shù)吵著更精、更準(zhǔn)的方向發(fā)展。

　　另一方面，復(fù)雜立體形狀加工技術(shù)的發(fā)展也對(duì)三維表面粗糙度測(cè)量的發(fā)展提出了新的要求。在過(guò)去很長(zhǎng)一個(gè)時(shí)期內(nèi)關(guān)于表面粗糙度的表征參數(shù)都是在某一法向截面所截得的 輪廓線上進(jìn)行評(píng)定，只反映高度和橫向距離之間的關(guān)系。屬于“二維”評(píng)定；但當(dāng)需要考察的表面粗糙度是一個(gè)小面積區(qū)域內(nèi)做評(píng)定時(shí)，就還應(yīng)考慮縱向的距離關(guān)系，這就拓展為“三維”評(píng)定表面粗糙度成為可行。

　　電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和精密加工技術(shù)的發(fā)展為表面粗糙度測(cè)量的進(jìn)一步發(fā)展提供了技術(shù)基礎(chǔ)。20世紀(jì)80年代出現(xiàn)的原子力顯微鏡（AFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、掃描進(jìn)場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（SNOM）、光子掃描隧道顯微鏡（PSTM）等用于表面粗糙度的測(cè)量時(shí)一個(gè)很希望的方向。

　　此外，在科學(xué)研究和生產(chǎn)實(shí)踐的許多領(lǐng)域，以往的加工后抽樣測(cè)量已經(jīng)不能再滿足要求，這就需要有能夠?qū)崿F(xiàn)在線測(cè)量的測(cè)量新方法。一次超高精度表面的高精度測(cè)量、三維表面粗糙度測(cè)量以及在線實(shí)時(shí)測(cè)量使粗糙度測(cè)量將來(lái)發(fā)展的主要方向。